--外接探测头,可测量小至1mm大小的绝缘体、半导体、及导体上的静电，专利技术，高精度无偏移测量。

* 专业用于电子行业日常静电测量的精密仪表。

* 测量范围±3KV，显示极性。

* 超高精度0.1%（不受检测距离影响）。

* 可测量小至1毫米大小的材料。

* 供应多种探测头，探测头可互换使用，适合多种应用 。

* 提供主/从操作。